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[嵌入式/ARM] 泛华测控高速应变测试解决方案———泛华测控高速应变测试解决方

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admin 发表于 2013-4-4 16:59:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

本文包含原理图、PCB、源代码、封装库、中英文PDF等资源

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  ◆应用背景:
  多通道、高速并行采集被广泛应用到各种应力测试中,如:风洞实验、振动波分析、声波分析、爆炸信号分析等。

  ◆系统描述:
  动态应变信号(增益:1,100,200,500;滤波频 率:10HZ,100HZ,1KHZ,10KHZ):因为需要滤波,采用SCXI 模块并联的方式结合PXI 背板上的触发总线,实现采集模块的同步;采集卡采用PXI 同步多功能采集卡,精度为16bi ts;
  静态应变信号(增益:1,100,200,400,800;滤波 频率:1HZ,10HZ,100HZ):由于速率要求低,所以采用多路转换的SCXI-1102模块。

  ◆系统指标:
24通道同步采集系统,每通道200k采样率,64通道静态信号采集。

  ◆解决方案:
·软件:LabVIEW图形化开发平台
·PXI -8196(嵌入式控制器PM760 2.0G,512M内存,40G硬盘)
·PXI -6123 3块(8通道同步采集卡,16bi ts精 度,500kS/ch采样率)
·SCXI -1143 3块(可编程8通道低通滤波器)
·PXI -1050(8槽PXI /4槽SCXI混合机箱)
·PXI -6220 1块(16通道多功能采集卡,16bi ts精度,250kS/s采样率)
·SCXI -1102 2块(32通道多功能信号放大调理模块)
来源:泛华测控
*滑块验证:
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