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[嵌入式/ARM] 高精度振动测试系统

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admin 发表于 2013-4-1 18:50:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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系统综述:
       振动测量在工程、科研、过程控制、安全环保等领域有着广泛的应用。本系统针对实际应用中,对不同振动信号的分析,包括振动速度,振动加速度,振动位移,通过多方位高精度专用传感器,实现立体化的振动量测,达到对监测目标的高精度量化分析。
  
系统构成:
       振动速度传感器;
     振动加速度传感器;
     多种位移计(接触式/非接触式);
     Tytest seis高精度振动分析仪;
     振动测量专用分析软件包;
  
系统参数:
振动速度传感器:
         频率范围:1~1500Hz内多种不同频率范围,如:5~500Hz,10~1000Hz等;
         作用方向:垂直方向,水平(剪切)方向,三维方向型;
         输出灵敏度:28V/m/s,50 V/m/s;
         工作方式:无源磁电式;
振动加速度传感器:
         频率范围:0~20000Hz内多种不同频率范围,如:0~1000Hz,5~10000Hz等;
         作用方向:垂直方向,水平(剪切)方向,全向型,三维方向型;
         工作方式:无源磁电式,压电式(需配接电荷放大器),ICP型,电容式,压阻式等;
         量程范围:±250g内多种不同量程范围,如±1g,±5g,±10g,±50g,±250g等;
     位移传感器:
         接触式:
             差动式传感器:频率范围60Hz以内,测量长度10mm以内,弹簧顶杆式;
             高精光栅尺:位移速度2m/分钟以内,测量长度3米以内任意,精度小于10μm;
         非接触式:
             电涡流位移计:频率范围1000Hz以内,测量长度10mm以内,精度小于10μm,基于霍
             尔效应测量;
     Tytest seis高精度振动分析仪:
         工作模式:内置嵌入式计算机,电池供电,可独立运行,也可联机工作;
         显示:3.7”高点阵液晶屏,结合功能键盘完成控制与参数调整;
         A/D:24bit,50K sps;
         动态范围:>100dB;
         信号分辩率:>0.01% F.S(满量程的十万分之一);
         信号输入范围:±1V,±10V(单端/差分电压信号);
         采样速度:1 sps~50K sps多档可调,1/2/5分档;
         通道数:4通道同步采样/8通道同步采样;
         记录模式:单次触发记录,循环触发记录,连续记录模式,上位机实时模式;
         缓存容量:8MB/通道,50K采速下,循环触发每段可记录50秒事件;
         触发方式:自动触发,手动触发,上位机控制触发;
         存储方式:内置标配1GB容量固态存储器(可扩至4GB),支持上位机实时存储;
振动测量专用分析软件包:
         振动速度测量:
             振动速度最大值,主频,FFT谱,功率谱,相关,积分,微分算法,专用算法等;
         振动加速度测量:
             加速度最大值,主频,FFT谱,功率谱,积分,二次积分,相关,相位等算法;
         位移测量:
             最大位移量,位移速度,位移频率等常用分析工具。
*滑块验证:
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