2.1.2正接线测量
采用正接线法可测量一次绕组对末屏的tanδ及电容量,接线图如图3所示。2.2.1高压引线的影响
反接线测量时高压端及引线的对地杂散电容与被试品并联,会带来测量误差,对于电容量只有几百皮法的电容型TA主绝缘来说,测量误差相对较大。
正接线测量时高压端及引线的对地杂散电容没有接入测量回路,不会引起测量误差。
2.2.2湿度的影响
用正接线测量电容型TA时,湿度的影响原理如图4所示。
2004年对220 kV、110 kV电容型TA共计90台相进行了正、反两种接线的测试,通过数据统计得到以下结论:
a. 同一设备反接线测得的C?x大于正接线的有90台相,占100%。
DL/T 5961996《电力设备预防性试验规程》规定TA的电容量变化应在±5%,由于反接线测量是主绝缘与一次对二次、二次对末屏的并联值,后两者的电容量远小于主绝缘的电容量,所以反接线测得的电容量较大于正接线测得的电容量。
由于现场用反接线测试时不拆刀闸侧一次连接线,实测值应加上刀闸对地电容,所以反接线测得的电容量比正接线的大许多。经统计的90组正、反接线测量的差值绝大部分在60~90 pF之间。
b. 同一设备正接线tanδ值大于反接线的有65台相,占72%。
在设备绝缘状况良好的情况下,正、反接线测得的tgδ不同是由于接线方法不同而带来的测量误差。因为采用反接线法进行现场测试时,只拆TA与开关的连线,而不拆TA与刀闸的连线(如图6所示),所以反接线的实测tanδ值是正接线实测tanδ值与一次对其他的tanδ的并联值。把反接线的实测tanδ值记作tanδ反 ,把正接线实测tanδ值记作tanδ正,把主绝缘对末屏的介损和电容量记为tanδ1、C1,其它记作tanδ0、C0,则有:
差分布情况见表3。
正接线测量电容型TA主绝缘的tanδ与反接线相比有以下优势:
a. 不受一次对二次绕组的tanδ影响。
b. 不受高压端及引线对地杂散电容的影响。
c. 不受空气湿度的影响。
d. 如果发现缺陷,能直接排除末屏受潮的可能性。